hth体育最新版在使用中會遇到哪些問題？

1. 在測容性負載阻值時，絕緣電阻測試儀(yi) 城出短路電流大小與(yu) 則量數據有什麽(me) 關(guan) 係，為(wei) 什麽(me) ?

絕續電陽測試儀(yi) 輸出短路電流的大小可反映出讀兆政表內(nei) 部輸出高壓源內(nei) 粗的大小。當被測試品存在電容.量時，在剛城過程的開始階設，絕零電阻測試收內(nei) 的高壓源要通過其內(nei) 阻向該電容充電，並逐步將電壓克到豔口祖測試儀(yi) 的輸出需定高壓值。顯然，如果試品的電容量值很大。鹹高壓源內(nei) 阻很大，這一充電過程的耗時就會(hui) 加長。其長度可由R內(nei) 和C負載的乘積決(jue) 定(單位為(wei) )。請注意，給電容充電的電流與(yu) 被測試品絕緣電阻上流過的電流，在測試中是一起流入絕緣電阻測試儀(yi) 內(nei) 的。 絕緣電阻測試儀(yi) 測得的電流不僅(jin) 有絕緣電阻上的分量，也加入了電容充電電流分量,這時測得的阻值將偏小。

如:額定電壓為(wei) 5000V的絕緣電阻測試儀(yi) ，若其短路輸出電流為(wei) 80μA(日本共立產(chan) ),其內(nei) 阻為(wei) 5000V/80μA= 62M2

如:試品容量為(wei) 0.15μF,則時間常數T=62MS2x0.15μF≈9 ()即在18時刻，電容上的充電電流仍有11.3μA。

由此可見，僅(jin) 由充電電流而形成的等效電阻為(wei) 5000V/11.3μA = 442MS2,若正常絕緣為(wei) 1000M2,則顯示的測得絕緣值僅(jin) 為(wei) 306MS2。這種試值已不能反映絕緣值的真實狀況了，而且試值主要是隨容性負載容量的變化而改變，即容量小，測試阻值大;容量大，測試阻值小。

所以，為(wei) 保障準確測得R15s，R60s的試值,應選用充電速度快的大容量絕緣電阻測試儀(yi) 。我國的相關(guan) 規程要求絕緣電阻測試儀(yi) 輸出短路電流應大於(yu) 0.5mA、1 mA. 2 mA、5 mA,要求高的場合應盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻測試儀(yi) 。

2.為(wei) 什麽(me) 測絕緣時，不但要求測單純的阻值，而且還要求測吸收比，化指數，有什麽(me) 意義(yi) ?

在絕緣測試中，某一個(ge) 時刻的絕緣電阻值 是不能反映試品絕緣性能的優(you) 劣的，這是由於(yu) 以下兩(liang) 方麵原因，一方麵，同樣性能的絕緣材料，體(ti) 積大時呈現的絕緣電阻小，體(ti) 積小時呈現的絕緣電阻大。另一方麵，絕緣材料在加上高壓後均存在對電荷的吸收比過程和化過程。所以， 電力係統要求在主變壓器、電纜、電機等許多場合的絕緣測試中應測量吸收比一即R60s和R15s的比值，和化指數即R10min和R1min比值，並以此數據來判定絕緣狀況的優(you) 劣。

3.在高壓高阻的測試環境中，為(wei) 什麽(me) 要求儀(yi) 表接"G"端連線?

在被測試品兩(liang) 端加上較高的額定電壓，且絕緣阻值較高時，被測試品表麵受潮濕，汙染弓|起的泄漏較大，示值誤差就大，而儀(yi) 表" G＇端是將被測試品表麵泄漏的電流旁路，使泄漏電流不經過儀(yi) 表的測試回路，消除泄漏電流引起的誤差。

4.在校測某些型號絕緣儀(yi) 表"L"、"E"兩(liang) 端額定輸出直流高壓時，用指針式萬(wan) 用表DCV檔測L、E兩(liang) 端電壓，為(wei) 什麽(me) 電壓會(hui) 跌落很多,而數字式萬(wan) 用表則不會(hui) ?

用普通的指針式萬(wan) 用表直接在絕緣電阻測試儀(yi) "L" "E"兩(liang) 端測量 其輸出的額定直流電壓，測量結果與(yu) 標稱的額定電壓值要小很多(超出誤差範圍)，而用數字萬(wan) 用表則不會(hui) 。這是因為(wei) 指針式萬(wan) 用表內(nei) 阻較小，而數字萬(wan) 用表內(nei) 阻相對較大。指針式萬(wan) 用表內(nei) 阻較小，絕緣電阻測試儀(yi) L-E端輸出電壓降低很多，不是正常工作時的輸出電壓。但是，用萬(wan) 用表直接去測絕緣電阻測試儀(yi) 的輸出電壓是錯誤的，應當用內(nei) 阻阻抗較大的靜電高壓表或用分壓器等負載電阻足夠大的方式去測量。

5.能不能用兆歐表直接測帶電的被測試品，結果有什麽(me) 影響，為(wei) 什麽(me) ?

為(wei) 了人身**和正常測試，原則上是不允許測量帶電的被測試品，若要測量帶電被測試品，不會(hui) 對儀(yi) 表造成損壞(短時間內(nei) )， 但測試結果是不準確的，因為(wei) 帶電後，被測試品便與(yu) 其它試品連結在一起， 所以得出的結果不能真實的反映實際數據,而是與(yu) 其它試品-起的並聯或串聯阻值。

6.為(wei) 什麽(me) 電子式絕緣電阻測試儀(yi) 幾節電池供電能產(chan) 生較高的直流高壓?

這是根據直流變換原理,經過升壓電路處理使較低的供電電壓提升到較高的輸出直流電壓，產(chan) 生的高壓雖然較高但輸出功率較小。

7.用絕緣電阻測試儀(yi) 測量絕緣電阻時,有哪些因素會(hui) 造成測量數據不準確，為(wei) 什麽(me) ?

A) 電池電壓不足。電池電壓欠壓過低,造成電路不能正常工作，所以測出的讀數是不準確的。

B) 測試線接法不正確。誤將"L"、"G"、 "E"三端接線接錯，或將"G"、 "L"連線"G"、 "E"連線接在被測試品兩(liang) 端。

C) "G"端連線未接。被測試品由於(yu) 受汙染潮濕等因素造成電流泄漏引起的誤差， 造成測試不準確，此時必須接好"G"端連線防止泄漏電流引起誤差。(責任編輯: 螞蟻)

D) 幹擾過大。如果被測試品受環境電磁幹擾過大，造成儀(yi) 表讀數跳動。或指針晃動。造成讀數不準確。

E) 人為(wei) 讀數錯誤。在用指針式絕緣電阻測試儀(yi) 測量時，由於(yu) 人為(wei) 視角誤差或標度尺誤差造成示值不準

確。

F) 儀(yi) 表誤差。儀(yi) 表本身誤差過大，需要重新校對。

8.高阻絕緣表現場測容性負載時(如主變)，指針顯示阻值在某一區間突然跌落 (不是正常測試時的值區間內(nei) 的緩慢小幅擺動)，快速來回擺動， 是什麽(me) 原因?

造成該現象主要是試驗係統內(nei) 某部位出現放電打火。絕緣表向容性被測試品充電中， 當容性試品被充至-定電壓時，如果儀(yi) 表內(nei) 部測試線或被測試品中任-部位有擊穿放電打火， 就會(hui) 出現上述現象。判別辦法:(1)儀(yi) 表測試座不接入測試線，開啟電源和高壓,看儀(yi) 表內(nei) 是否有打火現象發生(若有打火可聽到放電打火聲。(2)接上L、G、E測試線，不接被測試品，L測試線末端線夾懸空，開啟高壓，看測試導線是否有打火現象發生。若有打火現象，則檢查: a) L、 G測試線芯線(L端)與(yu) 裸露在外的線(G端)是否過近，產(chan) 生拉弧打火。b) L端芯線插頭與(yu) 測試座屏蔽環或測試夾子與(yu) 被測試品接觸**造成打火。c) 測試線與(yu) 插頭、夾子之間虛焊斷路，造成間隙放電。(3)接入被測試品， 檢查末端線夾與(yu) 試品接觸點附近有無放電打火。(4)排除以上原因，接好被測試品，開啟高壓，若儀(yi) 表仍有上述現象則說明被測試品絕緣擊穿造成局部放電或拉弧。