介溫譜與介電譜的區別
介溫譜與(yu) 介電譜的區別
高溫介電測量係統用於(yu) 高溫下材料的介電性能測量與(yu) 分析，包括介電常數、介質損耗、電容等參數。係統軟件也可以測量其它阻抗參數。
係統使用平行電極方法測量介電參數，多可以同時測量四個(ge) 樣品，應用於(yu) 絕緣材料產(chan) 品的開發與(yu) 檢測，評估產(chan) 品介電性能與(yu) 溫度的關(guan) 係。
高低溫介電溫譜/頻譜測量係統
一、 概述：
高低溫介電常數適用於(yu) 各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），雲(yun) 母，玻璃，塑料等物質的一項重要的物理性質，通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為(wei) 提高材料的性能提供依據。該儀(yi) 器用於(yu) 科研機關(guan) 、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究科研機關(guan) 、高校、工廠等地方。它是在特殊環境下，測量介質在該環境溫度下的介電常數。
介溫譜與(yu) 介電譜的區別
解讀高低溫介電溫譜測量係統廠家價(jia) 格可實驗性， 大量散熱產(chan) 品的散熱主要依靠對流，即依靠產(chan) 品周圍空氣流動來散熱，對流散熱一般又分為(wei) 強迫通風散熱和自然對流散熱。自然對流散熱是依靠產(chan) 品發熱產(chan) 生的溫度場，造成產(chan) 品周圍空氣的溫度梯度，使空氣流動散熱。強迫通風散熱是通過強製措施，迫使空氣流過產(chan) 品，帶走產(chan) 品產(chan) 生的熱量。對強迫對流散熱來說，在體(ti) 積流不變情況下，隨高度增加，大氣壓將伴隨著空氣密度降低。空氣密度降低將直接影響強迫對流散熱的效果。這是由於(yu) 強迫對流散熱是依靠氣體(ti) 的流動帶走熱量的。一般電機用的冷卻風扇，是保證流過電機的體(ti) 積流量不變，當高度增加時，由於(yu) 空氣密度下降，即使體(ti) 積流量不變，氣流的質量流量將隨之降低。一般可以認為(wei) 空氣的比熱是個(ge) 常數，由於(yu) 質量的減少，空氣吸收的熱量也將減少，產(chan) 品溫度將隨大氣壓力降低而升高。
當然，隨高度增加，對流散熱減少，輻射散熱增加。高度越高，空氣密度越低，對流散熱耗散的熱量所占的比例越來越大，在相當高的高度上，輻射散熱將成為(wei) 主要的散熱形式。
電工電子產(chan) 品有相當一部分是發熱產(chan) 品，如電機、變壓器、接觸器、電阻器等。這些產(chan) 品在使用中要消耗一部分電能變成為(wei) 熱能，這樣產(chan) 品會(hui) 發熱，溫度升高。產(chan) 品因發熱而使溫度升高，這溫度升高部分稱之為(wei) 溫升。散熱產(chan) 品的溫升隨大氣壓的降低而增加，隨海撥高度的增加而增加。導致產(chan) 品的性能下降或運行不穩定等現象出現。介溫譜與(yu) 介電譜的區別
二、技術指標：
1、電極直徑：10mm 數量：4個(ge)
2、電極材料：鉑金
3、測試電極：四通道，可以同時測試4路試樣
4、切換頻率：可以自由設定試樣切換時間
5、試驗方式：手動模式 自動模式
6、試驗數據：可導出測試原始數據，同時可以輸出測試曲線及打印試驗報告
7、測量頻率：以實際電橋為(wei) 準
8、溫度範圍：室溫~950°精度±0.1°C
9、加溫速率：2℃--10℃/min
10、數 據 線：銅鍍銀，低溫屏蔽線
10、機 箱：Q235鋼板表麵高溫噴塑而成
11、儀(yi) 器供電：AC:220V 50Hz 功率：2KW
12、測試電橋：國產(chan)
13、試驗環境：請不要在多塵、多震動、日光直曬、有腐蝕氣體(ti) 下使用。
儀(yi) 器使用時應遠離強電磁場，以免幹擾實驗結果。
介溫譜與(yu) 介電譜的區別
用於(yu) 解決(jue) 現有溫譜測試方法誤差大的技術問題。技術方案是將待測樣品置於(yu) 可控溫的氣氛環境中；使用計算機控製外圍設備，預置介電測試參數，令介電性能測試儀(yi) 器完成一次補償(chang) 校準以降低係統誤差；溫度反饋裝置根據計算機命令監測待測樣品溫度變化情況；所有待測頻率下測量工作完畢，介電性能測試儀(yi) 器發送中斷信號，計算機批量讀取測試結果；待所有數據校驗完畢，存儲(chu) 通過校驗的數據，一次測量工作完畢；計算機不斷監控係統的溫度變化狀況，重複上述測量過程，直至測試完畢。由於(yu) 多個(ge) 頻率點下數據批量測試，測試數據批量返回，多次測量取平均值，並對數據的有效性進行校驗，舍棄了錯值，提高了測量精度。
高溫測試平台是為(wei) 樣品提供一個(ge) 高溫環境、介電溫譜儀(yi) 是為(wei) 了滿足材料在高溫環境下的介電性能測量需求而設計的。*後，再通過測量軟件將這些硬件設備的功能整合在一起、半導體(ti) 等塊狀材料的高溫介電常數與(yu) 介電損耗。
介電阻抗譜儀(yi) 。它由硬件設備和測量軟件組成；高溫測試夾具提供待測試樣品的測試平台；阻抗分析儀(yi) 則負責測試各組參數數據、介電溫譜儀(yi) ，形成一套由實驗方案設計到溫度控製、參數測量
介溫譜與(yu) 介電譜的區別